2018年9月28日，由中國計量測試學會組織的中國計量科學研究院 “電學量子基標準核心芯片研制”科技成果鑒定會圓滿結束。
      此次鑒定會在中國計量科學研究院進行。清華大學的金國藩院士、北京東方計量測試研究所的黃曉釘研究員、黑龍江省計量檢定測試院的曹曙光研究員、清華大學的陳煒教授、湖南省計量檢測研究院的李慶先研究員、航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所的朱巖教授、北京化工大學的王學偉研究員作為鑒定專家參與了該項目的鑒定工作。    
      鑒定會由金國藩院士主持。在鑒定會上，鑒定委員會聽取了李勁勁研究員所作的技術總結報告、應用和查新報告、測試組黃曉釘組長作的測試報告。同時，審查了相關資料，并進行了現場考察。隨后，鑒定專家與課題組成員開展了熱烈地質詢討論。
       
      經過全體評審專家認真評審，一致認為： 該項目成果整體達到國際先進水平。